Piat, M., Battistelli, E. S., De Bernardis, P., Dalessandro, G., De Petris, M., Grandsire, L., Hamilton, J. C., Hoang, T. D., Marnieros, S., Masi, S., Mennella, A., Mousset, L., Osullivan, C., Prele, D., Stankowiak, G., Tartari, A., Thermeau, J. P., Torchinsky, S. A., Voisin, F. & Zannoni, M.
& 109 others,
Ade, P., Alberro, J. G., Almela, A., Amico, G., Arnaldi, L. H., Auguste, D., Aumont, J., Azzoni, S., Banfi, S., Belier, B., Bau, A., Bennett, D., Berge, L., Bernard, J. P., Bersanelli, M., Bigot-Sazy, M. A., Bonaparte, J., Bonis, J., Bunn, E., Burke, D., Buzi, D., Cavaliere, F., Chanial, P., Chapron, C., Charlassier, R., Cobos Cerutti, A. C., Columbro, F., Coppolecchia, A., De Gasperis, G., De Leo, M., Dheilly, S., Duca, C., Dumoulin, L., Etchegoyen, A., Fasciszewski, A., Ferreyro, L. P., Fracchia, D., Franceschet, C., Gamboa Lerena, M. M., Ganga, K. M., Garcia, B., Garcia Redondo, M. E., Gaspard, M., Gayer, D., Gervasi, M., Giard, M., Gilles, V., Giraud-Heraud, Y., Gomez Berisso, M., Gonzalez, M., Gradziel, M., Hampel, M. R., Harari, D., Henrot-Versille, S., Incardona, F., Jules, E., Kaplan, J., Kristukat, C., Lamagna, L., Loucatos, S., Louis, T., Maffei, B., Marty, W., Mattei, A., May, A., McCulloch, M., Mele, L., Melo, D., Montier, L., Mundo, L. M., Murphy, J. A., Murphy, J. D., Nati, F., Olivicri, E., Oriol, C., Paiella, A., Pajot, F., Passerini, A., Pastoriza, H., Pelosi, A., Perbost, C., Perciballi, M., Pezzotta, F., Piacentini, F., Piccirillo, L., Pisano, G., Platino, M., Polenta, G., Puddu, R., Rambaud, D., Rasztocky, E., Ringegni, P., Romero, G. E., Salum, J. M., Schillaci, A., Scoccola, C. G., Scully, S., Spinelli, S., Stolpovskiy, M., Supanitsky, A. D., Timbie, P., Tomasi, M., Tucker, C., Tucker, G., Vigano, D., Vittorio, N., Wicek, F., Wright, M. & Zullo, A.,
2022,
Millimeter, Submillimeter, and Far-Infrared Detectors and Instrumentation for Astronomy XI. Zmuidzinas, J. & Gao, J.-R. (eds.).
SPIE, 121902T. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; vol. 12190).
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